Сканер изделий Fastmicro

Цена: По запросу
Заявка на консультацию

Сканер изделий был разработан для измерения уровня загрязнения поверхностными частицами непосредственно на поверхности изделий. Основными областями применения являются производство полупроводников (пленки, сетки, пластины) и производство дисплеев.

Сканер имеет неограниченную область сканирования благодаря модульной и масштабируемой конструкции. Система может быть настроена в зависимости от формы и расположения поверхности, которую необходимо протестировать.

Сканер может использоваться для измерения:

  • Пленки (лицевая и обратная сторона)
  • Сетки, фотошаблоны (обратная сторона)
  • Пластины (обратная сторона, заготовки, фаски)
  • 3Di (например, соединение меди с медью)
  • Критические части

Сканер изделий был разработан для измерения уровня загрязнения поверхностными частицами непосредственно на поверхности изделий. Основными областями применения являются производство полупроводников (пленки, сетки, пластины) и производство дисплеев.

Сканер имеет неограниченную область сканирования благодаря модульной и масштабируемой конструкции. Система может быть настроена в зависимости от формы и расположения поверхности, которую необходимо протестировать.

Сканер может использоваться для измерения:

  • Пленки (лицевая и обратная сторона)
  • Сетки, фотошаблоны (обратная сторона)
  • Пластины (обратная сторона, заготовки, фаски)
  • 3Di (например, соединение меди с медью)
  • Критические части