Park XE7 является высокотехнологичным микроскопом, разработан компанией Park Systems. Обладая возможностями более дорогих моделей, ХЕ7 позволяет выполнить исследование своевременно и в рамках бюджета. Park XE7 обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он выдает изображения и отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям, предусмотренным уникальной АСМ архитектурой: раздельными сканерами XY и Z консольного типа. Более того, уникальный режим True Non-ContactTM обеспечивает Вас самыми четкими изображениями, скан за сканом без снижения разрешения.
Сканер
Латеральный сканер XY
Z сканер
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления Сканирующий диапазон: 100 мкм x 100 мкм (50 мкм x 50 мкм или 10 мкм x 10 мкм)
Направляющий силовой Z-сканер Сканирующий диапазон: 12мкм (дополнительно 25 мкм)
Обзор
Прямой осевой обзор поверхности образца и кантилевер В сборе с линзой объектива 10× (линза с 20-кратным увеличением предлагается дополнительно) Область обзора: 480 × 360 мкм ПЗС: 1 Мегапиксель
Электроника
Высокопроизводительный DSP: 600 МГц, 4800 MIPS Не более 16 изображений с данными Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей Входы сигналов: 20 каналов 16-битных ADC на частоте 500 кГц Выходы сигналов: 21 канал 16-битных DAC на частоте 500 кГц Сигнал синхронизации: конец изображения, конец линии, конец пиксельных сигналов TTL Активный Q-контроль (дополнительно) Постоянная калибровка пружины кантилевера (дополнительно) Соответствие СЕ Мощность: 120 Вт Модуль доступа сигнала (дополнительно)
Предметный столик
Ход столика XY: 13 мм x 13 мм, моторизированный (200 мм x 200 мм – дополнительно) Ход столика вдоль оси Z: 29,5 мм Диапазон перемещения фокусировки: 70 мм
