Скаттерометр TeraNova

Цена: По запросу
Заявка на консультацию

Технология Скаттерометра, основанная на Фурье-микроскопии с коллимированным освещением, позволяет извлекать такую важную информацию, как оптические характеристики изготавливаемых конструкций, и количественно оценивать качество образцов в процессе изготовления. В основе технологии контроля качества лежит особый подход, при котором образец освещается коллимированным светом под четко определенным углом падения через объектив. При этом для каждого угла падения формируется изображение дифрагированных порядков. Анализируя интенсивность этих порядков в зависимости от угла падения, можно определить оптические характеристики образцов и извлечь их геометрические параметры. С помощью разработанных алгоритмов возможно выделить изменения геометрических параметров образцов и показателей преломления материалов, используемых в процессе обработки.

  • Компактный настольный прибор, размеры (В/Ш): 1,8 м × 0,9 м × 0,5 м
  • Независимость от подложки (полупроводник, металл, стекло, алмаз и т.д.)
  • Зона контроля диаметром около 100 мкм
  • Одновременное обнаружение нескольких дифракционных порядков
  • Однонанометровое разрешение/чувствительность (Чувствительность: < 2 нм)
  • Пространственное разрешение (диаметр): 50 мкм
  • Время полного сканирования (на одну точку): 15-30 сек.
  • Угловой диапазон: -40°…40°
  • Минимальная толщина пластины: 0,3 мм
  • Загрузка пластин: Ручная/Автоматическая

Технология Скаттерометра, основанная на Фурье-микроскопии с коллимированным освещением, позволяет извлекать такую важную информацию, как оптические характеристики изготавливаемых конструкций, и количественно оценивать качество образцов в процессе изготовления. В основе технологии контроля качества лежит особый подход, при котором образец освещается коллимированным светом под четко определенным углом падения через объектив. При этом для каждого угла падения формируется изображение дифрагированных порядков. Анализируя интенсивность этих порядков в зависимости от угла падения, можно определить оптические характеристики образцов и извлечь их геометрические параметры. С помощью разработанных алгоритмов возможно выделить изменения геометрических параметров образцов и показателей преломления материалов, используемых в процессе обработки.

  • Компактный настольный прибор, размеры (В/Ш): 1,8 м × 0,9 м × 0,5 м
  • Независимость от подложки (полупроводник, металл, стекло, алмаз и т.д.)
  • Зона контроля диаметром около 100 мкм
  • Одновременное обнаружение нескольких дифракционных порядков
  • Однонанометровое разрешение/чувствительность (Чувствительность: < 2 нм)
  • Пространственное разрешение (диаметр): 50 мкм
  • Время полного сканирования (на одну точку): 15-30 сек.
  • Угловой диапазон: -40°…40°
  • Минимальная толщина пластины: 0,3 мм
  • Загрузка пластин: Ручная/Автоматическая